Joseph C. Woicik: шукати на сайті Z-Library

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 23.87 MB

english, 2016

[Springer Series in Surface Sciences] Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) Volume 59 || Depth Profiling and Internal Structure Determination of Low Dimensional Materials Using X-ray Photoelectron Spectroscopy

Knorr, Daniel Brainard, Tran, Ngon T., Gaskell, Karen J., Orlicki, Joshua A., Woicik, Joseph C., Jaye, Cherno, Fischer, Daniel A, Lenhart, Joseph L.

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 833 KB

english, 2016

Synthesis and Characterization of Aminopropyltriethoxysilane-Polydopamine Coatings

Журнал:

Langmuir

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.93 MB

english, 2016

Chemical characterization of surface precipitates in La0.7Sr0.3Co0.2Fe0.8O3-δ as cathode material for solid oxide fuel cells

Yu, Yang, Nikiforov, Alexey Y., Kaspar, Tiffany C., Woicik, Joseph C., Ludwig, Karl F., Gopalan, Srikanth, Pal, Uday B., Basu, Soumendra N.

Журнал:

Journal of Power Sources

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.07 MB

english, 2016

Local crystal structural modifications in pulsed laser deposited high-k dielectric thin films on silicon and germanium

Mehmet Alper Sahiner, Joseph C. Woicik, Timothy Kurp, Jeffrey Serfass, Marc Aranguren

Журнал:

Materials Science in Semiconductor Processing

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 382 KB

english, 2008

The local structural characterization of the inactive clusters in B, BF2 and BF3 implanted Si wafers using X-ray techniques

M. Alper Sahiner, Daniel F. Downey, Steven W. Novak, Joseph C. Woicik, Dario A. Arena

Журнал:

Microelectronics Journal

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 117 KB

english, 2005

Pulsed laser deposition and characterization of Hf-based high-k dielectric thin films

Mehmet Alper Sahiner, Joseph C. Woicik, Peng Gao, Patrick McKeown, Mark C. Croft, Michael Gartman, Brendan Benapfla

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 423 KB

english, 2007

Synchrotron X-ray Based Characterization of CdZnTe Crystals

Martine C. Duff, Douglas B. Hunter, Patterson Nuessle, David R. Black, Harold Burdette, Joseph Woicik, Arnold Burger, Michael Groza

Журнал:

Journal of Electronic Materials

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 264 KB

english, 2007

Correlation of local structure and electrical activation in arsenic ultrashallow junctions in silicon

Giubertoni, Damiano, Pepponi, Giancarlo, Gennaro, Salvatore, Bersani, Massimo, Sahiner, Mehmet Alper, Kelty, Stephen P., Doherty, Roisin, Foad, Majeed A., Kah, Max, Kirkby, Karen J., Woicik, Joseph C.

Журнал:

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 668 KB

english, 2008

Local structure of Ba(Ti,Zr)O_{3} perovskite-like solid solutions and its relation to the band-gap behavior

Levin, Igor, Cockayne, Eric, Krayzman, Victor, Woicik, Joseph, Lee, Soonil, Randall, Clive

Журнал:

Michael T. Brumbach, Joseph C. Woicik

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 581 KB

english, 2011

HAXPES of protected ITO surfaces at the buried P3HT/ITO interface

Журнал:

Surface and Interface Analysis

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 422 KB

english, 2012

Incipient amorphous-to-crystalline transition in HfO2 as a function of thickness scaling and anneal temperature

Patrick S. Lysaght, Joseph C. Woicik, M. Alper Sahiner, Byoung-Hun Lee, Raj Jammy

Журнал:

Journal of Non-Crystalline Solids

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 156 KB

english, 2008

Relation between the Redox State of Iron-Based Nanoparticles and Their Cytotoxicity toward Escherichia coli

Auffan, Mélanie, Achouak, Wafa, Rose, Jérôme, Roncato, Marie-Anne, Chanéac, Corinne, Waite, David T., Masion, Armand, Woicik, Joseph C., Wiesner, Mark R., Bottero, Jean-Yves

Журнал:

Environmental Science & Technology

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.14 MB

english, 2008

Local-structure origins of the sustained Curie temperature in (Ba,Ca)TiO3 ferroelectrics

Levin, Igor, Krayzman, Victor, Woicik, Joseph C.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2013

/GaAs(100) metal-oxide-semiconductor structures

Walsh, Lee A., Hughes, Greg, Lin, Jun, Hurley, Paul K., O’Regan, Terrance P., Cockayne, Eric, Woicik, Joseph C.

Журнал:

Levin, Igor, Krayzman, Victor, Woicik, Joseph C.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 709 KB

english, 2013

: Reverse Monte Carlo refinements from multiple measurement techniques

Журнал:

The Journal of Physical Chemistry C

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.65 MB

english, 2014

A spectroscopic method for the evaluation of surface passivation treatments on metal–oxide–semiconductor structures

Walsh, Lee A., Hurley, Paul K., Lin, Jun, Cockayne, Eric, O’Regan, T.P., Woicik, Joseph C., Hughes, Greg

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.46 MB

english, 2014

Electronic Structure of β-Na x V 2 O 5 ( x ≈ 0.33) Polycrystalline Films: Growth, Spectroscopy, and Theory

Chen, Bo, Laverock, Jude, Newby, Dave, Su, Ting-Yi, Smith, Kevin E., Wu, Wei, Doerrer, Linda H., Quackenbush, Nicholas F., Sallis, Shawn, Piper, Louis F. J., Fischer, Daniel A., Woicik, Joseph C.

Журнал:

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.85 MB

english, 2014

Local structure determination in strained-layer semiconductors

Levin, Igor, Cockayne, Eric, Lufaso, Michael W., Woicik, Joseph C., Maslar, James E.

Журнал:

Surface Science Reports

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.60 MB

english, 2014

Local Structures and Raman Spectra in the Ca(Zr,Ti)O 3 Perovskite Solid Solutions

Журнал:

Chemistry of Materials

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 180 KB

english, 2006

Synthesis of Large Quantities of Single-Walled Aluminogermanate Nanotube

Levard, Clément, Rose, Jérôme, Masion, Armand, Doelsch, Emmanuel, Borschneck, Daniel, Olivi, Luca, Dominici, Christian, Grauby, Olivier, Woicik, Joseph C., Bottero, Jean-Yves

Журнал:

Journal of the American Chemical Society

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 511 KB

english, 2008

Effects of Solution pH and Surface Chemistry on the Postdeposition Growth of Chemical Bath Deposited PbSe Nanocrystalline Films

Sarkar, Shaibal K., Kababya, Shifi, Vega, Shimon, Cohen, Hagai, Woicik, Joseph C., Frenkel, Anatoly I., Hodes, Gary

Журнал:

Chemistry of Materials

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 486 KB

english, 2007

In situ XANES of an iron porphyrin irreversibly adsorbed on an electrode surface

Kim, Sunghyun, Bae, In Tae, Sandifer, Marnita, Ross, Philip N., Carr, Roger, Woicik, Joseph, Antonio, Mark R., Scherson, Daniel A.

Журнал:

Journal of the American Chemical Society

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 502 KB

english, 1991

Enhancement of Engine Oil Wear and Friction Control Performance through Titanium Additive Chemistry

Guevremont, Jeffrey M., Guinther, Gregory H., Szemenyei, Dewey, Devlin, Mark T., Jao, Tze-Chi, Jaye, Cherno, Woicik, Joseph, Fischer, Daniel A.

Журнал:

Tribology Transactions

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.84 MB

english, 2008

Chemical analysis of HfO[sub 2]∕Si (100) film systems exposed to NH[sub 3] thermal processing

Lysaght, Patrick S., Barnett, Joel, Bersuker, Gennadi I., Woicik, Joseph C., Fischer, Daniel A., Foran, Brendan, Tseng, Hsing-Huang, Jammy, Raj

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 765 KB

english, 2007

A combined capacitance-voltage and hard x-ray photoelectron spectroscopy characterisation of metal/Al2O3/In0.53Ga0.47As capacitor structures

Lin, Jun, Walsh, Lee, Hughes, Greg, Woicik, Joseph C., Povey, Ian M., O'Regan, Terrance P., Hurley, Paul K.

Журнал:

Brumbach, Michael T., Ohlhausen, James A., Zavadil, Kevin R., Snow, Clark S., Woicik, Joseph C.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.54 MB

english, 2014

Activation of erbium films for hydrogen storage

Журнал:

Weiland, Conan, Browning, Raymond, Karlin, Barry A., Fischer, Daniel A., Woicik, Joseph C.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.33 MB

english, 2011

Note: Alignment/focus dependent core-line sensitivity for quantitative chemical analysis in hard x-ray photoelectron spectroscopy using a hemispherical electron analyzer

Журнал:

Review of Scientific Instruments

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 974 KB

english, 2013

A combined hard x-ray photoelectron spectroscopy and electrical characterisation study of metal/SiO2/Si(100) metal-oxide-semiconductor structures

Walsh, Lee A., Hughes, Greg, Hurley, Paul K., Lin, Jun, Woicik, Joseph C.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 963 KB

english, 2012

[IEEE 2011 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2011 NSS/MIC) - Valencia, Spain (2011.10.23-2011.10.29)] 2011 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record - A very large area (100 mm2) silicon drift detector for EXAFS applications

Barkan, Shaul, Saveliev, Valeri D., Feng, Liangyuan, Takahashi, Masanori, Damron, Elena V., Tull, Carolyn, Sterbinsky, George E., Woicik, Joseph C.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 563 KB

english, 2011

Structural changes underlying the diffuse dielectric response in

Levin, Igor, Krayzman, Victor, Woicik, Joseph C., Karapetrova, Jenia, Proffen, Thomas, Tucker, Matthew G., Reaney, Ian M.

Журнал:

Wang, Honghong, Woicik, Joseph C., Åberg, Teijo, Chen, Mau Hsiung, Herrera-Gomez, Alberto, Kendelewicz, Tom, Mäntykenttä, Anna, Miyano, Ken E., Southworth, Stephen, Crasemann, Bernd

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.12 MB

english, 2009

Threshold K - LL Auger spectra of P in InP

Журнал:

Physical Review A

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 761 KB

english, 1994

Ni-(In,Ga)As Alloy Formation Investigated by Hard-X-Ray Photoelectron Spectroscopy and X-Ray Absorption Spectroscopy

Walsh, Lee A., Hughes, Greg, Weiland, Conan, Woicik, Joseph C., Lee, Rinus T. P., Loh, Wei-Yip, Lysaght, Pat, Hobbs, Chris

Журнал:

Physical Review Applied

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.28 MB

english, 2014

Site‐specific Valence X‐ray Photoelectron Spectroscopy

Synchrotron Radiation News

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 514 KB

english, 2004

ECS Transactions [ECS 220th ECS Meeting - Boston, MA (October 9 - October 14, 2011)] - Hard X-ray Fluorescence Measurements of Heteroepitaxial Solid Oxide Fuel Cell Cathode Materials

Davis, Jacob N., Miara, Lincoln J., Saraf, Laxmikant, Kaspar, Tiffany C., Gopalan, S., Pal, Uday B., Woicik, Joseph C., Basu, Soumendra N., Ludwig, Karl F.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 429 KB

english, 2012

The Role Of Ge In Cluster Formation In B And Bf2 Implanted Si Wafers After Ge Pre-Amorphization

Alper Sahiner, M., Magee, Charles W., Downey, Daniel F., Arevalo, Edwin, Woicik, Joseph C.

Журнал:

Erdtmann, Matthew, Currie, Matthew T., Woicik, Joseph C., Black, David

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 85 KB

english, 2003

Optimization of SiGe Graded Buffer Defectivity and Throughput by Means of High Growth Temperature and Pre-Threaded Substrates

Журнал:

Sahiner, M. Alper, Shah, Wiqar, Aranguren, Marc, Serfass, Jeffrey, Woicik, Joseph C.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2005

Local Crystal Structure Modifications in Pulsed Laser Deposited Colossal Magnetoresistive Oxide Thin Films

Журнал:

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 166 KB

english, 2008

Heavy ion implantation combined with grazing incidence X-ray absorption spectroscopy (GIXAS): A new methodology for the characterisation of radiation damage in nuclear ceramics

Stennett, Martin C., Hyatt, Neil C., Reid, Daniel P., Maddrell, Ewan R., Peng, Nianhua, Jeynes, Chris, Kirkby, Karen J., Woicik, Joseph C., Ravel, Bruce

Журнал:

Sahiner, M. Alper, Ansari, Parviz, Carroll, Malcolm S., Magee, Charles W., Novak, Steven W., Woicik, Joseph C.

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 471 KB

english, 2009

Xafs as a Direct Local Structural Probe in Revealing the Effects of C Presence in B Diffusion in Sige Layers

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 86 KB

english, 2004

X-ray Topography to Characterize Surface Damage on CdZnTe Crystals

Black, David, Woicik, Joseph, Duff, Martine C., Hunter, Douglas B., Burger, Arnold, Groza, Michael

Журнал:

Lysaght, Patrick, Barnett, Joel, Woicik, Joseph C., Foran, Brendan, Bersuker, Gennadi, Lee, Byoung Hun

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.99 MB

english, 2007

[ECS 208th ECS Meeting - Los Angeles, California (October 16-October 21, 2005)] ECS Transactions - The Influence of NH3 Anneal on the Crystallization Kinetics of HfO2 Gate Dielectric Films

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 770 KB

english, 2006

[AIP Fundamental Physics of Ferroelectrics 2003 - Williamsburg, Virginia (USA) (2-5 February 2003)] AIP Conference Proceedings - Site-Specific X-ray Photoelectron Spectroscopy: A New Method To Measure Partial Density of Valence States